Os avanços na tecnologia de inspeção produziram um sistema altamente versátil de alta resolução para inspeção por raio X 2D, tomografia computadorizada 3D (microCT e nanoCT®) e metrologia 3D. Agora, o escaneamento por CT de ativos menores é mais eficiente do que nunca, graças a escaneamentos microCT até duas vezes mais rápidos e com resolução duplicada.
Se você precisa aumentar a velocidade, os detalhes de detecção ou os dois, o Phoenix V|tome|x S240 da Waygate Technologies, uma empresa da Baker Hughes, pode ser formatado para qualquer tarefa de microCT 3D industrial ou científica.Este CT scanner é ideal para atender aos desafios de inspeção na indústria eletrônica, P&D, científica e automotiva.
Para permitir alta flexibilidade, o V|tome|x S240 pode opcionalmente ser equipado com os dois, um tubo de Raio X nanofoco de alta potência de 180 kV/20 W e um tubo de Raio X microfoco de 240 kV/320 W. Devido a esta combinação única, o sistema é uma ferramenta ideal para uma ampla variedade de aplicações, de escaneamentos de nanoCT de extrema alta resolução de materiais de baixa absorção com melhor detecção de detalhes de 0,2 micrômetro, assim como para a análise 3D de objetos de alta absorção de até 15 kg de peso e 500 mm de diâmetro com microCT.