O EddyCus® TF map 2525 Series apresenta automaticamente características de imagens em amostras até 250 x 250 mm² (10 x 10 polegadas) em modo sem contacto. Após o posicionamento manual da amostra, o dispositivo mede e exibe automaticamente a distribuição das propriedades em toda a área da amostra. As configurações de medição permitem escolher de forma fácil e flexível entre tempos de medição rápidos inferiores a 1 minuto ou alta resolução de medição espacial de mais de 50.000 pontos de medição por amostra. O mapeamento resultante fornece uma verdadeira percepção da homogeneidade e qualidade de camadas transparentes e não transparentes ou folhas de wafer e metal. O dispositivo de bancada permite, dependendo da sua configuração, a imagem precisa da resistência da folha, da espessura do metal ou da transparência óptica.
Destaques
Sem contato
Medição rápida e precisa
Mapeamento de alta resolução de filmes finos condutivos
Imagem de substratos até 250 x 250 mm (10 x 10 polegadas)
Detecção de defeitos e análise de revestimento
Caracterização mesmo de camadas condutoras escondidas e encapsuladas
Várias funções de análise integradas por software (por exemplo, distribuição da resistência da folha, varreduras de linha, análise de ponto único)
Funções de economia e exportação de dados de medição
Tipos
A plataforma do dispositivo está disponível em diferentes configurações de sensores, incluindo sensores de corrente parasita para caracterização eléctrica ou sensores para caracterização óptica. As variantes das configurações de medição envolvem as seguintes opções.
Características
Tecnologia: corrente parasita sem contacto
Mapeamento de imagens por mapeamento multiponto
Controle de uniformidade em camadas finas
Controle de qualidade, controle de entrada e saída
Área de posicionamento: 300 mm x 270 mm
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