Nova e revolucionária tecnologia Dual Side-On Interface (DSOI) que alcança o dobro da sensibilidade dos instrumentos convencionais de visão radial-plasma
A tecnologia TI permite a mais alta sensibilidade para elementos vestigiais, bem como a ausência de interferências de matriz e uma boa precisão para matrizes ambientais desafiadoras
Novo sistema de leitura GigE que permite o transporte de espectros em menos de 100 ms para velocidades de análise mais rápidas, tempos mais curtos de amostra a amostra e mais amostras por hora
Gerador LDMOS extremamente ágil que torna desnecessário o arrefecimento externo: analisar matrizes de amostras difíceis em diluições mais baixas para limites de detecção mais baixos - aquecimento mais rápido (~10 minutos) para maior produtividade
A nova tecnologia DSOI da SPECTRO, uma nova abordagem à questão crítica do design de visão de plasma, utiliza uma tocha de plasma vertical, observada através de uma nova tecnologia de visão radial direta. Duas interfaces ópticas capturam a luz emitida de ambos os lados do plasma, usando apenas uma reflexão extra, para maior sensibilidade e eliminação de problemas que atormentam os novos modelos de dupla visão vertical-torca. Como resultado, a DSOI proporciona o dobro da sensibilidade dos sistemas radiais convencionais - mas evita a complexidade, os inconvenientes e o custo dos modelos de dupla visão vertical.
O modelo Twin Interface combina automaticamente as vistas de plasma axial e radial - olhando tanto através do plasma como de ponta a ponta - otimizando a sensibilidade, linearidade e faixa dinâmica, evitando efeitos matriciais como EIE. O resultado: A SPECTROGREEN TI oferece a mais alta sensibilidade para elementos vestigiais, bem como liberdade de interferências de matriz e boa precisão para matrizes ambientais desafiadoras.
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