Espectrômetro de fluorescência SPECTRO XEPOS

de raios Xpara a indústria aeroespacialde fluorescência de raios X por dispersão de energia

Um analisador elementar concebido para aplicações exigentes - o espectrómetro de fluorescência de raios X dispersiva de energia SPECTRO XEPOS (ED-XRF) redefine a análise XRF com novos níveis excepcionais de desempenho Uma sensibilidade excepcional leva a uma precisão melhorada até um factor 3 - a base para uma elevada precisão ao analisar concentrações de elementos menores a maiores Mede mais baixo do que nunca: Excitação adaptativa, design avançado de tubos e sistema de detecção de alta produção resultam em limites de detecção significativamente (normalmente um fator 3) mais baixos para uma ampla gama de elementos Dominar o desconhecido: A ferramenta de software Turboquant II proporciona uma capacidade sem precedentes de analisar amostras desconhecidas, independentemente de serem líquidas, sólidas ou em pó - sejam elas folhas de árvores, plásticos, óleo, granito ou vidro.. O novo espectrómetro SPECTRO XEPOS representa um salto quântico na tecnologia de fluorescência de raios X dispersiva de energia. Ele proporciona avanços revolucionários na análise multi-elementar de concentrações de elementos maiores, menores e vestigiais. Novos desenvolvimentos em excitação e detecção proporcionam uma sensibilidade excepcional e limites de detecção - produzindo ganhos notáveis em precisão e precisão. O espantoso SPECTRO XEPOS destaca-se em tarefas críticas, desde a análise rápida de triagem até o controle preciso da qualidade do produto. Aplica-o para processamento em linha em uma variedade de indústrias, para geologia e mineração, para monitoramento ambiental e de resíduos, e para pesquisa e academia. Diferentes versões maximizam o desempenho para grupos elementais selecionados em matrizes específicas. Um tubo de raios X inovador e uma nova tecnologia única de excitação adaptativa fornecem a maior sensibilidade possível, otimizada para os elementos alvo de escolha.