Espectrômetro óptico OE series
OESpara a indústria aeroespacialde emissão óptica por centelhamento

Espectrômetro óptico - OE series - Hitachi High-Tech Analytical Science - OES / para a indústria aeroespacial / de emissão óptica por centelhamento
Espectrômetro óptico - OE series - Hitachi High-Tech Analytical Science - OES / para a indústria aeroespacial / de emissão óptica por centelhamento
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Características

Tipo
óptico, OES
Âmbito de utilização
para a indústria aeroespacial
Outras características
de emissão óptica por centelhamento
Comprimento de onda

MÍN: 117 nm

MÁX: 670 nm

Descrição

O OE750 e o NOVO OE720 são analisadores de metais OES inovadores. Cobrem o espetro completo de elementos em metais* com baixos limites de deteção e tecnologia multi-CMOS de última geração. O endurecimento dos regulamentos da indústria, as complexas cadeias de fornecimento e o aumento da utilização de sucata como material de base significam que é crucial para as fundições e os fabricantes de metais controlar os elementos principais, residuais, residuais e vestigiais na gama mais baixa de ppm. Historicamente, a análise OES a este nível estava fora do alcance de muitas empresas. Isso mudou agora com a série OE. Estes espectrómetros de faísca permitem-lhe analisar todos os principais elementos de liga e identificar níveis excecionalmente baixos de elementos residuais, vestigiais e de tratamento em metais, como o azoto no aço. O OE750 também abrange aplicações raras, como o oxigénio no cobre e o oxigénio, azoto e hidrogénio no titânio. Os tempos de medição rápidos, a elevada fiabilidade e os baixos custos de funcionamento significam que a série OE é inestimável para a análise diária e para o controlo total da qualidade, com um desempenho equivalente ao dos espectrómetros maiores e mais dispendiosos. Destaques e aplicações Para uma análise rápida e abrangente da qualidade de metais num único instrumento acessível, o OE750 oferece tudo o que precisa. Abrange todos os elementos para uma análise completa de metais com baixos limites de deteção Alta resolução ótica para controlo de elementos residuais e vestigiais Excelente estabilidade, precisão e exatidão a longo prazo. análise de gases (H e O em Ti, O em Cu) Acessível para comprar e operar, com desempenho equivalente ao de analisadores mais caros Inclui uma base de dados abrangente de metais, para uma identificação rápida e fácil do grau. Software opcional de SPC e de correção de carga para um controlo ótimo do processo

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