Analisador XRF FT16 series

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O analisador XRF de bancada FT160 foi concebido para medir as caraterísticas minúsculas que se encontram nas actuais placas de circuito impresso, semicondutores e micro-conectores. A capacidade de medir com precisão e rapidez caraterísticas minúsculas ajuda a aumentar a produtividade e a evitar retrabalho dispendioso ou rejeição de componentes. A ótica policapilar do FT160 pode medir revestimentos à escala de nm em caraterísticas inferiores a 50 µm, e a tecnologia avançada de detectores proporciona-lhe uma elevada precisão, mantendo um tempo de medição curto. Outras caraterísticas, tais como uma mesa de amostras de grandes dimensões, uma porta de grande abertura, uma câmara de amostras de alta definição e uma janela de observação substancial, facilitam o carregamento de itens de diferentes dimensões e a localização da região de interesse num substrato de grandes dimensões. Fácil de utilizar, este analisador integra-se perfeitamente no seu processo de QA / QC, alertando-o para problemas antes de se tornarem uma crise. Destaques do produto Concebido para a análise de micropontos e revestimentos ultra-finos, a tecnologia ótica e de deteção do FT160 está optimizada para as mais pequenas caraterísticas. Grande janela de observação para visualizar a análise a uma distância segura Os métodos de medição cumprem as normas ISO 3497, ASTM B568 e DIN 50987 Acabamentos de teste para conformidade com IPC-4552B, IPC-4553A, IPC-4554 e IPC-4556 Localização automatizada de caraterísticas para uma configuração rápida da amostra Escolha da configuração do analisador optimizada para a sua aplicação Medição de revestimentos à escala de nm em elementos mais pequenos do que 50 µm O dobro da capacidade de análise dos instrumentos convencionais Acomoda amostras grandes numa vasta gama de formas Design robusto testado para utilização a longo prazo na produção