非接触式3次元測定器

X軸移動距離: 185 mm
Y軸移動距離: 200 mm

... UMAP (Ultra Micro and Accurate Probe) は、微小形状測定システムです。 UMAPは、以下のようなメリットを提供します。 1 台の装置で高精度接触・非接触測定の 2 つの機能を実現。 接触式（マイクロスタイラスUMAPプローブ）および非接触式（ビジョンプローブ）の測定プローブが搭載されています。 を搭載しています。 今まで届かなかった部品の微小形状を測定することができます。 マイクロスタイラスは15μmから300μmまで数種類の直径を用意しています。 タイプです。 ハイパーUMAP302 ...

X軸移動距離: 300 mm
Y軸移動距離: 200 mm
Z軸移動距離: 200 mm

... MiSCAN MVS-HYPERおよびMVS-APEXビジョンシステムは、高度な画像処理と触覚スキャン計測を組み合わせたものです。 MVS-HYPER 302には、MPP-NanoプローブまたはSP25Mスキャニングプローブのいずれかを装備することができます。 MPP-Nanoは微小部品測定用の高精度スキャニングプローブで、先端径が125～500 µmのスタイラスモジュールを使用します。 MVS-HYPER 404 および MVS APEX 404 モデルには、中型の測定範囲を持つ標準的なスキャニングジョブ用の ...

X軸移動距離: 100 mm
Y軸移動距離: 100 mm
Z軸移動距離: 100 mm

... ワンクリックで測定できる、究極のシンプル操作。 2次元画像測定器の新コンセプトをお届けする非接触2次元画像測定器です。測定効率を向上させるために、いくつかのユニークな機能を備えています。 を含む。 大きな被写界深度と広視野。 ダブルテレセントリック光学系 3メガピクセルのカラーカメラ 4象限LEDリングライト 自動ステージモデルにより、最高の測定効率を実現 ステージガラスサイズ。 170×170［mm］の大きさ 測定モード。 ハイレゾモード、ノーマルモード 光学系の作動距離 90 ...

X軸移動距離: 310 mm
Y軸移動距離: 310 mm
Z軸移動距離: 310 mm

... 最初の純粋な光学式 CMM 機である µCM は、非常に厳しい公差を高精度で測定するために使用されます。ユーザーは、触覚座標測定技術と光学式表面測定技術からの利点を組み合わせ、たった一つのセンサーでコンポーネントの寸法、位置、形状、粗さを測定します。光学式 CMM は、複数の光学式 3D 測定を相互に関連付けることで高い幾何学精度を実現し、大型コンポーネントの小さな表面の詳細を測定したり、これらの個々の測定値の位置を相互に関連付けることで精密に決定したりすることが可能です。測定可能な表面は、プラスチック、PCD、CFRP、セラミック、クロム、シリコンなど、一般的な工業材料や複合材料に対応しています。シングルボタンソリューション、自動化、特別に設計されたコントローラなどの人間工学に基づいた制御要素により、簡単な操作を実現しています。リニア駆動のエアベアリング軸により、磨耗のない使用と高精度かつ高速な測定が可能です。 直感的な操作性、複数のユーザーのための設計 測定可能な表面は素材に依存せず、マットなものから光沢のあるもの、鏡面仕上げのものまで、業界で一般的に使用されているあらゆる素材や複合材が含まれます。 高密度の非接触測定と材料に依存しない測定 アリコナの測定システムは、表面および座標測定システムの機能を1つのシステムに統合しています。その結果、お客様の品質保証は、より費用対効果が高く、実行が簡単で、より効率的に結果を出すことができます。 磨耗のない、効率的な使用 可動軸を含むすべてのコンポーネントが非接触で動作します。 ...

TopMap Pro.Surfは、迅速かつ正確に高精度で形状偏差を測定します。 TopMap Pro.Surf はハイエンド ソリューションであり、精密製品の表面を測定するために最適です。 再現性が高いため、計測チャンバや生産ラインにおいても測定できます。TopMap Pro.Surfは優れた空間分解能と、テレセントリックレンズを有するため、あらゆるアプリケーションにおいて、平坦度、段差、平行度などのパラメータを正確に測定できます。 概要 迅速かつ正確な3D表面特性評価 非接触測定とトレーサブルな測定結果 反射特性の異なる面もフィルタを使用して測定可能 最大測定範囲230 ...

ポリテックのMetro.Labは、深い測定深度とナノメートル分解能を有する高精度な白色光干渉計（コヒーレンス走査干渉計）です。柔らかく繊細な材料の、広い範囲における平坦度、段差、平行度の非接触測定に最適です。 Metro.Labの測定深度は最大70 mmであり、測定が困難と思われる場合も、サブナノメートル分解能での測定を実現します。 Metro.Labは研究室でも生産工程でも使用できます。また接触式測定システムを使用して実行していた測定案件にも、使用できます。さらに他のTopMapシステムと同様に、オープン ...