Hitachi の航空用厚み測定装置
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測定範囲: 5 µm - 140 µm
... 信頼性の高い銅箔とラミネートの厚みを1秒以内で測定 検査と基板製造におけるプリント基板箔とラミネート銅厚の品質保証 主な特長 電池式、電池残量警告付き CE承認済み 工場校正済み 実証済みの耐久性。 簡単操作。 独自のソフトタッチプローブ CMI95M®の使い方は簡単です。独自のソフトタッチプローブを銅の表面に当て、インジケーターで厚みの測定値を記録するだけです。このゲージは、現場で実証された微小抵抗技術を使用しており、銅箔と積層板を厚さ別に選別します。 CMI95M®は頑丈で、手頃な価格 ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
測定範囲: 0 µm - 254 µm
... さをμm、mil、oz単位で測定。 プローブ先端は照明付きで 位置決めが簡単 英語または 簡体字中国語 独自のSRP-T1測定プローブ 交換可能なプローブチップ - 再校正の必要がありません。 工場でのダウンタイムがありません。 仕様 EN 14571に準拠した抵抗法による4点電気式プローブ。 高い再現性と信頼性。 データ記録、平均値、標準偏差、高低値などの統計分析が可能。 工場校正および認証済み。 特定のアプリケーション用にカスタマイズ可能 静的または連続モード測定 単三電池駆動 ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
測定範囲: 2 µm - 102 µm
... 銅厚を高速測定 CMI511®は、インプロセスでの厚さ測定用に独自の温度補正機能を備えており、スクラップやコストのかかる再加工を削減します。自動温度補正機能により、めっき槽から取り出したばかりの基板でも高精度に測定できます。 このゲージは次のような用途に最適です: PCB製造・組立 スルーホール銅厚さ CMI511®は工場で校正されているため、標準器を追加する必要がなく、常に高精度の測定が可能です。両面基板や多層基板に最適で、錫めっきや錫/鉛めっきも可能です。CMI511®は瞬時に測定でき、使いやすいため ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
測定範囲: 0.25 µm - 152 µm
... 両面、多層PCB上の高度な表面銅測定 表面銅を正確に測定する微細抵抗技術 CMI563®は、銅メッキ上の正確な測定のための高度な技術を提供し、ラミネートの厚さに関係なく、PCBの反対面が測定値の妨げにならないことを保証します。CMI563®は、ラミネート銅、無電解銅、電解銅の正確な表面銅測定を容易にします。 このゲージは以下の用途に最適です: プリント基板の製造と組み立て 銅表面の厚さ CMI563®は、フレキシブルまたはリジッド、片面、両面、多層基板の銅箔測定に優れた性能を発揮します。 SRP ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
測定範囲: 1 µm - 102 µm
... ラミネート、表面、トレース、スルーホールの銅を1台の装置でテストします。 CMl760®は、表面銅やスルーホールアプリケーションなど、ほとんどすべてのPCBアプリケーションに対応できるよう、複数のプローブタイプに対応しています。 CMl760®は、SRP-4プローブと試験データを解釈するための高度な統計パッケージを標準装備しています。 この測定器は拡張性が高く、銅の正確で精密な測定のために、微小抵抗と渦電流の両方のテストが可能です。スルーホール銅の厚さを測定するためのオプションアクセサリもご用意しています ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
測定範囲: 0 µm - 3,000 µm
... スチール、アルミニウム、その他の金属に塗布された塗膜の単層または全体の厚さを測定できます。プローブのベースは、滑らかな表面の測定用に設計されており、測定範囲が広くなっています。これらのゲージは、以下のような用途に最適です: 塗料・粉体塗装業者 塗装検査 自動車および航空宇宙産業の仕上げ加工。 電気メッキ工場 当社のコンパクトなハンドヘルドゲージは工場で校正されています。指をさして測定するだけで、評価対象の基材に応じた最適な測定方法を自動的に選択します。 これらのゲージは、過酷な条件下での使用に耐えるように ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
測定範囲: 0 mm - 3.01 mm
... High-Tech Analytical Science Americas, Inc.にのみ適用されます。 | 定義したスキャン時間の測定値を自動的に平均化します。 | 9,690の測定値を保存 | 認定標準物質を使用して、お客様のアプリケーションに特化したカスタム校正を行います。 | 複数のアプリケーション用にカスタマイズ可能 | 静的または連続モード測定 仕様 | ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
測定範囲: 38 µm - 1,270 µm
... 鉄基材上のめっき金属の電気めっきと亜鉛めっきの正確な測定 高度な金属皮膜測定 CMl243®はメタルフィニッシャーにとって不可欠なツールです。フレキシブルで使いやすい 位相感応渦電流技術を採用したECP-mプローブを搭載しています。CMI243®と CMI243®では、ECP-mプローブを使用することで、鉄基材上の金属皮膜を正確に測定することができます。このゲージはファスナーや輸送部品に最適で、ユーザーフレンドリーなコントロールと蛍光X線分析(XRF)装置に匹敵する性能を備えています。さらに、CMI243 ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
測定範囲: 0 µm - 3,500 µm
... 膜厚の品質保証 測定ニーズに合わせた2種類のプローブ構成 CMI255およびCMI257膜厚計は、スチール、鉄、アルミニウムなどの金属に塗布された保護膜や装飾膜の高信頼性試験に対応するデュアルテクノロジーです。CMI255およびCMI257は、一連の測定値を確認するための統計機能と、基材のばらつきを考慮する機能を搭載しており、以下のような用途に最適な品質保証・検査ツールです: | 塗料・粉体塗装 | ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
測定範囲: 2.5 µm - 1,000 µm
... CMI730 は、塗装やメッキの厚さ測定のための先進的な非破壊ソリューションです。 コーティングとメッキの厚さを測定します。高精度 測定が可能です: | 磁性基板上の非磁性コーティング | 導電性金属基板上の非導電性コーティング。 | 鉄基材への電気めっき。 CMI730 CMl730®は、渦電流プローブと磁気誘導プローブの両方を利用できる柔軟な設計になっています。小型でシンプルな外観にもかかわらず、当社のプローブは高精度の電気機械式アセンブリであり、お客様が部品を正確に測定する上で重要な役割を果たします ...
Hitachi High-Tech Analytical Science
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