Phoenix Nanotom® M は、科学・産業用コンピューター断層撮影 (microCT と nanoCT®) および 3D 計測用のナノフォーカス X 線 CT システムです。 このシステムは、幅広いサンプルと応用範囲で独自の空間解像度とコントラスト解像度を実現します。 CT スキャン、再構成、分析プロセスの完全に自動化された実行により、その使いやすさと高速で信頼性の高い CT 結果が保証されます。 複雑な物体の正確で再現性のある 3D 測定と、最初の品目検査レポートの 1 時間以内の自動生成が可能です。