データ分析ソフトウェア TecView™ BT

データ取り込み用航空用プロセス

TecView™ BTは本当のWindows®基づかせていたデータ収集からのデータ解析に非破壊的なとらわれのテストの点検のために、設計されているソフトウェアをである。それは宇宙航空複合材料のとらわれの質の点検のために設計されている。直観的なインターフェイスによって、TecView BTはとらわれのテストのプロセスを自動化する。それはとらわれのテストの器械の出力信号を記録し、大きさで分類し、置く欠陥の検出の点ではより直観的で、より正確な分析の可能性を可能にするCスキャン イメージ投射機能を提供する。Cスキャン イメージ投射は専門にされた非破壊的なとらわれのテストの結果を補足できる有用で付加的なデータを提供できる。さらに、Cスキャン イメージ投射は多数の読書内の幾何学的なパターンを確認することを割り当てる点検データの直観的な表示を提供する。