管理用ソフトウェア TecView™ UT

データ分析データ取り込み用航空用

TecView™ UTは材料の非破壊的な自動化された超音波テスト（UT）を行うことを可能にする完全なソフトウエア システムの解決である。それは走査器の動作制御の、データ収集およびデータ解析を含む超音波テストの全体のプロシージャを管理するために設計されている。TecView™ UTは64ビットのWindows®の完全な利点に7/8のOSを、もっと効果的に扱う多量のRAMメモリ（RAM）を取るより本当の64ビットの適用32ビット適用で、多数の中心プロセッサのために最大限に活用される。それはまたユーザー フレンドリーで、理解し、運行することを容易にする直観的なメニュー設計がある。TecView™ UTは多くの共通のPulser/受信機および計数化装置カードを支える。TecView™のUTの主に部品は点検および分析モジュールである。