走査プローブ REVO® SFP2

CMM宇宙産業用

従来の表面粗さ測定は、手持ちセンサーを使用するか、専用の測定機に部品を移動する必要がありました。これを一変させるのが REVO マルチセンサーシステムです。スキャニングと表面粗さ測定を切り換えて使用できるため、三次元測定機の測定プロセスの一環として表面粗さ測定ができます。また、測定レポートに表面粗さ分析を含めることもできます。 5 軸測定技術による SFP2 の自動表面粗さ測定を使用することで、測定時間の大幅な短縮、パーツ移動の必要性の低減、さらには三次元測定機に対する ROI の大幅な向上を実現できます。 システムは、プローブと各種モジュールから構成されます。REVO に使用される他のプローブとの自動交換ができるため、各形状に最適な測定ツールを簡単に選択して、すべての測定を 1 台の三次元測定機上で行えます。また、複数のセンサーから取得したデータは、共通の基準を自動的に参照します。 ラックと RCP TC-3 ポートを使用することで、SFP2 プローブとスタイラスホルダを自動交換できるため、通常の三次元測定機の測定プログラムに表面粗さ測定を組み込めます。 SFP2 プローブは、REVO-2 ヘッドの無段階位置決めと 5 軸動作を活用しています。 プローブと一体化した C 軸、先端角度の自由な配置、そしてモジュールとホルダ間のナックル継ぎ手により、アクセスが非常に難しい形状にもアクセスできます。 は、先端に半径 2µm のダイヤモンドスタイラスを搭載したスキッド式プローブです。スキッドが表面に触れる力は約 0.2N に制御され、スタイラスの先端には 0.005N の力がかかります。 は直径 5mm ほどの小さな内径にも使用できます。 表面粗さ測定機能: 6.3µm～0.05µm Ra 出力: Ra、RMS と生データは、UCCserver から I++ DME プロトコルを使用して測定アプリケーションクライアントソフトウェアに送信されます。この生データを表面粗さ分析専用ソフトウェアに取り込んで、詳細なレポートを作成できます。 センサーのキャリブレーションを行うには、MRS-2 ラック上に取り付けた表面粗さ用基準マスター (SFA) を測定し、測定ソフトウェアでマスターの測定値に従ってプローブ出力を自動調整します。 にはモータ駆動の C 軸が内蔵されているため、部品の周囲の必要な位置で表面粗さ測定できます。