光学式3次元測定器 OptiLux SD

航空用

完全に客観的な傷発掘の度量衡学および光学表面の証明システム 私達のOptiLuxの傷発掘システムは正確に異なった視覚の部品の傷発掘の欠陥を評価し、確認する必要がある産業光学製造業者のために設計されていた。それはfully-automated、オペレータ独立した表面の測定および分析ルーチンを提供するために精密X-Y動きシステムと高解像センサーの頭部を結合することによって傷発掘の点検プロセスの完全な制御を与える。これは非常に反復可能な、たどることができるプロセス非disputable傷発掘の品質保証を提供したり、また壊れやすい表面への偶然の損傷の危険を減らす構成の処理の量を限る。反復可能な結果の正確さを使うと、技術者はいかに近い非常に壊れやすい表面かのための表面の指定に合うために欠陥が等級分けの境界にいつそして磨きいつ停止するかあるか理解でき、例えば精製するようにそれらが続けるか、丁度知っていることによって工程をする。傷の発掘の点検プロセスのこの即時のオートメーションに調達期間そして生産費の削減の重大な影響がある。