赤外線カメラ PI 1M

空港用非破壊試験

短波の赤外線カメラのoptris PI 1MTheの新開発の熱カメラのoptris® PI 1Mは熱プロセス、高性能センサーの電子工学の視覚化に平行してこれらのとして金属の温度の測定に特に、展示物8-14 μm.の前に慣習的な波長範囲の測定のより1μmの短い測定の波長の明瞭に高い放射率中心ピクセルの温度情報の表示のための1msの短い点爆時間を認めるために適する。