X線検査機 XT H 450

断層撮影法素材用非破壊試験

nikonの度量衡学のX線ctはコンピュータ断層撮影XTH450The XT H 450システムを提供する高密度部品を通って突き通り、ミクロンの正確さと分散なしのCTの容積を発生させる必要な源力を。システムは望ましくない分散させたX線を捕獲しないでX線のコレクションを最大限に活用するフラット パネルか所有物によって曲げられる線形配列（CLA）の探知器と利用できる。 この線形探知器はイメージの汚染および準の対照の減少の回避によって思いがけないイメージの鋭さおよび対照を実現する。450のkVおよびCLAは中小の金属の合金のタービン・ブレードおよびcasted部品の点検にとって理想的である。