X線検査機 MCT225

素材用非破壊試験

すべての内部および外的な幾何学が効率的に測定されることをnikonの度量衡学のX線ctは度量衡学ct MCT225Thisの新しい『絶対正確さ』度量衡学CT （MCT）システムを保証する計算した。専有液体の冷却されたマイクロ焦点の反射の源およびair-cooledキャビネットは長期にわたる安定性を提供し、MCT225を印象的な正確さの指定を達成することを可能にする。それは精密プラスチック部品、小さい鋳造および複雑な部品およびアセンブリ点検するために優秀な測定の正確さおよび小さい特徴の検出提供する。 利点 50年の25年のX線の経験と混じった等位の測定機械（CMM）度量衡学の経験はコンピュータ断層撮影（CT）を 絶対正確さ9 + VDI/VDE 2630に従うL/50 μm 度量衡学CTの為に開発される専有マイクロ焦点の源 高精度のメカトロニクスの増加のサンプル処理の正確さ 簡単な手動使用およびオートメーションのプロセス フロー実行 強力な視覚化および分析は詳しい洞察力を提供する 広範囲サンプルの大きさおよび物質的な密度のために適した