nikonの度量衡学のX線ctはコンピュータ断層撮影XTH450The XT H 450システムを提供する高密度部品を通って突き通り、ミクロンの正確さと分散なしのCTの容積を発生させる必要な源力を。システムは望ましくない分散させたX線を捕獲しないでX線のコレクションを最大限に活用するフラット パネルか所有物によって曲げられる線形配列(CLA)の探知器と利用できる。
この線形探知器はイメージの汚染および準の対照の減少の回避によって思いがけないイメージの鋭さおよび対照を実現する。450のkVおよびCLAは中小の金属の合金のタービン・ブレードおよびcasted部品の点検にとって理想的である。
利点
所有物450のkVのmicrofocusのX線の源
密なタービン・ブレードの動かされた極めて正確な点検
容易なシステム操作および低い費用の所有権
圧倒する分散しないで3Dイメージは重大な洞察力を提供する
高性能のイメージの獲得および容積の処理
簡単な点検オートメーション
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