光学式検査機 Vic-Microscope

素材用3D

Correlated Solution.isi sysによってビック ソフトウェアに基づいて右のデジタル画像の相関関係の解決を選ぶのを助け、取付けおよび訓練を含むデジタル画像の蓄積にターンキー システムを提供する。ビックの製品種目は材料および製品のテストに無接触測定システムおよび変形の測定の解決を提供する。ビック システムのさまざまな構成はあなたの適用によって利用できるを含む:高リゾリューション（29MPまで）、高速（5MHzまで）、緊張や負荷制御、赤外線機能、顕微鏡検査（0.7mmに）、疲労のテスト、3D一時的な振動分析、3D full-field実時間分析（10Hzまで）、ソフトウェアを（240Hzまで）監察する、およびソフトウェアを後処理する実時間事実上のひずみゲージ。