コーティング厚み測定装置 CMI243®

磁気航空用X線

鉄基材上のめっき金属の電気めっきと亜鉛めっきの正確な測定 高度な金属皮膜測定 CMl243®はメタルフィニッシャーにとって不可欠なツールです。フレキシブルで使いやすい 位相感応渦電流技術を採用したECP-mプローブを搭載しています。CMI243®と CMI243®では、ECP-mプローブを使用することで、鉄基材上の金属皮膜を正確に測定することができます。このゲージはファスナーや輸送部品に最適で、ユーザーフレンドリーなコントロールと蛍光X線分析（XRF）装置に匹敵する性能を備えています。さらに、CMI243®に磁気誘導プローブを追加することで、磁性基材上の塗料やその他のコーティングを測定することができます。 位相感応渦電流テクノロジー 従来の渦電流ゲージや磁気誘導式ゲージよりも信頼性が高く、特に小型部品や複雑な形状の部品に最適です。精度は±1%以内（標準品を基準）、精度は0.3%以内。 進化したECP-mプローブ ECP-mプローブは、難しい金属皮膜のアプリケーションのために特別に設計されました。このプローブは、鉄基板上の亜鉛、ニッケル、銅、クロム、カドミウムなどの金属皮膜を測定できます。その先端部は、小さな部品、異形部品、粗い部品の測定を容易にします。 パッケージの構成 | ガイド付きECP-mプローブ | 亜鉛校正用標準試料 | オプション：SMP-1（磁気プローブ）は別途購入可能。 | 精度：標準物質に対して±1%。