コーティング厚み測定装置 CMI233®

磁気宇宙産業用非破壊試験

卓上型の精度を持つ多様なハンドヘルド膜厚計 高性能、堅牢設計、低価格 CMI233®ゲージは、正確で効率的な膜厚検査を手頃な価格で行うための信頼性の高い手段を提供します。 測定は自動または連続モードで行えます。 CMI233®には、凹凸やテクスチャのある基材を補正する独自のスキャンオプションがあり、ゲージの繰返し精度と再現性が向上します。 12,000回以上の読み取りが可能な大容量メモリにより、使用頻度の高いアプリケーションにも対応できます。 渦電流式プローブ1本と磁気式プローブ2本に対応。 指定したスキャン時間を自動日付 スタンプと高低インジケーター サービスハブのグローバルネットワークは、お客様の稼働を継続させるためのあらゆる技術サポートを提供します。 弊社は膜厚校正のA2LA認証*を取得しており、CMI233®がISO 17025の審査に適合していることを保証します。 *A2LAはHitachi High-Tech Analytical Science Americas, Inc.にのみ適用されます。 | 定義したスキャン時間の測定値を自動的に平均化します。 | 9,690の測定値を保存 | 認定標準物質を使用して、お客様のアプリケーションに特化したカスタム校正を行います。 | 複数のアプリケーション用にカスタマイズ可能 | 静的または連続モード測定 仕様 | 測定方法 | 磁気誘導：ASTM B499およびB530、DIN 50981、ISO 2178、BS 5411 Part 9および11に準拠。 | 渦電流：ASTM B244 & B259、DIN 50984、ISO 2360およびBS 5411 Part 3に準拠。 | 統計表示：読み取り値数、平均値、標準偏差、最高値と最低値。