振動試験機 Spider-80X
材料宇宙産業用

振動試験機 - Spider-80X  - Crystal Instruments Corporation - 材料 / 宇宙産業用
振動試験機 - Spider-80X  - Crystal Instruments Corporation - 材料 / 宇宙産業用
振動試験機 - Spider-80X  - Crystal Instruments Corporation - 材料 / 宇宙産業用 - 画像 - 2
お気に入りに追加する
商品比較に追加する
 

特徴

試験の種類
振動
試験済製品
材料
その他の特徴
宇宙産業用

詳細

衝撃、振動および音響の測定または一般目的の電圧測定にとって理想的である高いチャネルの計算の振動試験のControlTheのくも80Xの振動試験のコントローラーに電圧およびIEPEの入力がある。各くも80Xの振動コントローラーは正確に動的および静的な信号を測定し、記録する8つの入力チャネルが装備されている。同時に計算の実時間時間および頻度が基本機能を間、多くのフラッシュ・メモリの記録信号を同時に流すことの8つのチャネル102.4 kHzまで。埋め込まれた信号の源チャネルは入力サンプリング レートと合わせられるさまざまな信号の出力波形を提供する。RangeTheの高い動的くもの性能はあらゆる同じようなプロダクトの最も高いダイナミック レンジが付いているクラスのベストである。特許を取られた技術によって、くも80Xは150のdBFSの入力ダイナミック レンジを達成する(時間領域で定義される)。各測定チャネルは6 μV小さく、±20 V.大きい信号を検出する。そのような高いダイナミック レンジは入力範囲のための必要性を除去しか、または従来のデータ収集 システムの設定を得る。高速浮動小数点DSPはデータ入出力およびリアルタイム処理を管理する。くも80Xはまた大量データの貯蔵のためのRAMそして機内フラッシュ・メモリと形成される。特別な熱および低い電力の設計冷却ファンのための必要性を除去するため。

---

カタログ

*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。