Per il controllo dei processi produttivi di componenti complessi e costosi, la tomografia computerizzata (TC) diventa la tecnologia di scelta per molte attività di ispezione e metrologia, ad esempio per le fusioni automobilistiche, le pale delle turbine aerospaziali o le parti stampate in 3D che per natura presentano caratteristiche nascoste. Una sfida importante è rappresentata dall'aumento dei tempi di ciclo, combinato con un'elevata profondità di ispezione, che richiede metodi migliori per gestire gli artefatti di imaging.
La diffusione dei raggi X è il fattore principale di tali artefatti nella TC. Mentre lo stato dell'arte della riduzione della dispersione simula la dispersione in base ai dati CAD o alle proprietà dei materiali del campione, la tecnologia proprietaria Scatter|correct di Waygate Technologies misura realmente la porzione di dispersione di quel campione specifico nello scanner CT e la riduce al minimo dal risultato CT per ogni singolo voxel. Il nuovo metodo brevettato consente di aumentare la capacità di ispezione e la precisione delle applicazioni di TC ad alta energia per la scansione di campioni difficili da penetrare con un numero atomico relativamente elevato, come i metalli, che in realtà vengono eseguiti con la classica TC 2D a ventaglio altamente collimata. Questo sistema consente ai clienti di ottenere una qualità TC mai raggiunta prima con la TC a fascio conico industriale basata su pannelli piatti. Combinando la qualità della tomografia a ventaglio di alta precisione con la produttività fino a 100 volte superiore della tomografia a fascio conico completamente automatizzata, l'aumento significativo della produttività delle ispezioni consente alla tomografia a ventaglio di passare dalle applicazioni di ricerca e sviluppo alle ispezioni di serie in produzione.
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