La serie EddyCus® TF inline misura le proprietà degli strati come lo spessore dello strato metallico, la resistenza del foglio, l'emissività, l'umidità residua o la grammatura senza contatto su vari substrati. I substrati rilevanti sono vetro, foglio, carta, wafer, plastica o ceramica. Il monitoraggio avviene tramite misurazione permanente o tramite eventi di trigger per ottenere risultati equidistanti in processi di rivestimento in rapido movimento. Le soluzioni di monitoraggio possono essere implementate sia in condizioni di atmosfera che di vuoto. I processi che utilizzano la tecnologia a correnti parassite beneficiano di alti tassi di campionamento. I risultati delle misurazioni possono essere forniti per i sistemi di controllo del processo utilizzando il software del cliente. Inoltre SURAGUS offre il software di monitoraggio EddyCus® EC Control che visualizza, memorizza e analizza i dati metrologici.
Vantaggi
Misurazione in tempo reale senza contatto
Alta velocità di misurazione fino a 1.000 misurazioni/sec.
Installazione di sensori fissi o trasversali
Integrazione di 1 - 99 corsie di monitoraggio per sistema
Controllo del processo in atmosfera o sotto vuoto
Misurazioni molto vicine al bordo del substrato sono possibili in molte applicazioni
Stabilità a lungo termine grazie a misurazioni compensate dalla temperatura in ambienti mutevoli
Grandi distanze dal materiale da testare (ad esempio, distanza di 60 mm / 2,4 pollici)
Caratterizzazione di strati conduttivi coperti o substrati incapsulati
Numerose funzioni di analisi e statistica integrate nel software
Facile impostazione tramite il software EddyCus® RampUp, inclusa la procedura guidata per la calibrazione del sistema
Senza usura
Motivazioni per l'uso della metrologia in linea
Controllo del processo e assicurazione della qualità
Ottimizzazione dei tempi di processo
Utilizzo della macchina
Utilizzo del materiale
Produttività
Miglioramento delle prestazioni del prodotto
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