La serie EddyCus® TF lab 4040 è dedicata alle misurazioni senza contatto a punto singolo su substrati di medie dimensioni. Il dispositivo da banco applicabile in modo flessibile permette, a seconda della sua configurazione, la misurazione manuale precisa della resistenza del foglio, dello spessore del metallo, della trasparenza ottica o della (an)isotropia elettrica. Le applicazioni più comuni includono la misurazione di sottili strati conduttivi trasparenti e non trasparenti, wafer o fogli di metallo.
In evidenza
Senza contatto, in tempo reale, robusto
Misure accurate e molto ripetibili
Alta qualità di misurazione senza influenza di:
Qualità di contatto omogenea
Passivazione / Incapsulamento
Ruvidità
Nessun danno agli strati sensibili
Misura precisa di
Film sottili conduttivi convenzionali
Griglie e strutture metalliche
Sistemi multistrato
Strati conduttivi nascosti e incapsulati
Nessuna usura
Mappatura manuale guidata dal software per un controllo sistematico della qualità
Molte funzioni di salvataggio ed esportazione dei dati di misura
Integrazione di smart monitor salvaspazio (per misurazioni su touch screen e valutazione dei dati)
Kit di sviluppo software per l'automazione dei test utilizzando i programmi del cliente
Tipi
Il dispositivo può essere equipaggiato con diversi sensori, compresi i sensori a correnti parassite per la caratterizzazione elettrica o i sensori per la caratterizzazione ottica. Le varianti della piattaforma del dispositivo prevedono le seguenti opzioni.
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