Nuova tecnologia rivoluzionaria Dual Side-On Interface (DSOI) che raggiunge il doppio della sensibilità degli strumenti convenzionali con visione al plasma radiale
La tecnologia TI consente la massima sensibilità per gli elementi in traccia, così come la libertà dalle interferenze della matrice e una buona accuratezza per le matrici ambientali difficili
Nuovo sistema di lettura GigE che consente il trasporto degli spettri in meno di 100 ms per una maggiore velocità di analisi, tempi più brevi tra i campioni e più campioni all'ora
Generatore LDMOS estremamente agile che rende superfluo il raffreddamento esterno: analisi di matrici di campioni difficili in diluizioni inferiori per limiti di rilevazione più bassi - riscaldamento più rapido (~10 minuti) per una maggiore produttività
La nuova tecnologia DSOI di SPECTRO, un approccio nuovo di zecca al problema critico della progettazione della vista del plasma, utilizza una torcia al plasma verticale, osservata tramite una nuova tecnologia a vista radiale diretta. Due interfacce ottiche catturano la luce emessa da entrambi i lati del plasma, utilizzando solo una singola riflessione extra, per una maggiore sensibilità e l'eliminazione dei problemi che affliggono i nuovi modelli a doppia vista a torcia verticale. Come risultato, il DSOI fornisce il doppio della sensibilità dei sistemi radiali convenzionali - ma evita la complessità, gli svantaggi e i costi dei modelli a doppia vista verticale.
Il modello Twin Interface combina automaticamente entrambe le viste assiali e radiali del plasma - guardando sia attraverso il plasma che da un capo all'altro - ottimizzando la sensibilità, la linearità e la gamma dinamica ed evitando gli effetti matrice come l'EIE. Il risultato: SPECTROGREEN TI offre la più alta sensibilità per gli elementi in traccia, così come la libertà dalle interferenze della matrice e una buona accuratezza per le matrici ambientali difficili.
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