Spettrometro a fluorescenza SPECTRO MIDEX MID04

per il settore aerospazialea fluorescenza a raggi X in dispersione di energiaXRF

Screening di conformità veloce e non distruttivo con dimensioni dello spot flessibili, da 0,1 a 4 mm Scansioni e mappature delle linee degli elementi: Ottieni una composizione elementare qualitativa in pochi minuti - altri strumenti micro-XRF possono richiedere ore Suite completa con calibrazioni preparate in fabbrica per lo screening di plastiche e compositi e l'analisi delle leghe Lo SPECTRO MIDEX è noto per essere un talento a tutto tondo per l'analisi rapida e non distruttiva di piccoli spot e per la mappatura rapida di grandi superfici (fino a 233x160 mm, 9.2x6.3'') nella ricerca e sviluppo così come nelle applicazioni di screening di conformità, poiché molti compiti di analisi elementare nell'industria, nella ricerca e nelle scienze richiedono un sistema di misurazione non distruttivo che sia estremamente sensibile e offra un piccolo spot di misurazione. La precisione dell'analisi elementare è spesso critica. Per altre applicazioni la velocità è ancora più importante. Inoltre, tutti gli utenti preferiscono gli analizzatori che sono facili da usare, con un software utile e un facile trasferimento dei risultati in una rete di laboratorio. In molte applicazioni, gli utenti premiano anche il campionamento non distruttivo. Per anni, SPECTRO MIDEX ha fornito le migliori prestazioni XRF. SPECTRO MIDEX incorpora gli ultimi sviluppi nella tecnologia dei rivelatori ED-XRF, oltre a un tasso di conteggio notevolmente migliorato. Queste innovazioni intelligenti contribuiscono a renderlo uno dei più avanzati analizzatori XRF da banco da laboratorio di fascia media disponibili per le analisi di piccoli punti e la mappatura rapida di grandi superfici.