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Analizzatore XRF FT2 Series
di materialibenchtopper l'aeronautica

Analizzatore XRF - FT2 Series - Hitachi High-Tech Analytical Science - di materiali / benchtop / per l'aeronautica
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Caratteristiche

Altre caratteristiche
di materiali
Configurazione
benchtop
Altre caratteristiche
per l'aeronautica, XRF

Descrizione

Gli analizzatori XRF da banco della serie FT200 sono stati progettati per ridurre significativamente il tempo necessario per effettuare una misura. Riconoscendo che la maggior parte del tempo viene impiegata per l'impostazione del campione e la selezione della ricetta di misura, gli ingegneri di Hitachi hanno creato una serie di analizzatori innovativi che si "impostano" da soli, rendendo possibile l'analisi di molti più pezzi in un solo turno di lavoro. Gli analizzatori FT230 e FT210 sono caratterizzati da automazione e software innovativi. Grazie a moduli di riconoscimento intelligente come Find My Part™, l'operatore deve solo caricare il campione, confermare il pezzo e lo strumento si occuperà di tutto il resto. Troverà i punti di misura giusti sul pezzo, anche su substrati di grandi dimensioni, selezionerà il programma di analisi corretto e invierà i risultati al sistema di qualità. Si riducono i tempi e gli errori umani e si ottengono più analisi in meno tempo, rendendo l'ispezione al 100% molto più realistica in un ambiente di produzione molto affollato. Caratteristiche principali del prodotto Ogni singolo elemento di FT230 e FT210 è stato progettato per ridurre drasticamente i tempi di analisi. La messa a fuoco automatica riduce i tempi di caricamento dei campioni Il riconoscimento intelligente Find My Part™ imposta automaticamente l'intera routine di misura La vista del campione è presentata su un'ampia parte dello schermo per un'eccellente visibilità La diagnostica di autocontrollo conferma la salute e la stabilità dello strumento Si integra perfettamente con altri software ed esporta facilmente i dati Intuitivo e facile da usare per i non addetti ai lavori grazie a una nuova interfaccia utente Potente per misurare fino a quattro strati contemporaneamente più il substrato Durevole per una lunga durata in un ambiente di produzione o di laboratorio impegnativo Conforme alle norme ASTM B568 e DIN ISO 3497

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