L'EddyCus® TF map 2530 Series mesure automatiquement la résistance des feuilles de grands échantillons jusqu'à 300 x 300 mm² (12 x 12 pouces) en mode sans contact. En positionnant manuellement l'échantillon, l'appareil mesure et affiche automatiquement une cartographie précise de la résistance de la feuille sur toute la surface de l'échantillon. Les paramètres de mesure permettent de choisir facilement et avec souplesse entre des temps de mesure rapides inférieurs à 1 minute ou une haute résolution spatiale de mesure de plus de 100 000 points de mesure.
Points forts
Sans contact
Mesure rapide et précise
Cartographie haute résolution de couches minces conductrices
Imagerie de substrats jusqu'à 300 x 300 mm (12 x 12 pouces)
Caractérisation même des couches conductrices cachées et encapsulées
Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (par exemple, distribution de la résistance de la feuille, balayage de lignes, analyse d'un seul point)
Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure
Détection des défauts et analyse des revêtements
Types
La plate-forme de dispositifs est disponible dans différentes configurations de capteurs, notamment des capteurs à courants de Foucault pour la caractérisation électrique ou des capteurs pour la caractérisation optique. Les variantes des configurations de mesure comportent les options suivantes.
Caractéristiques
Technologie : courants de Foucault sans contact
Imagerie par cartographie multipoint
Zone de positionnement : 300 mm x 300 mm
Zone d'échantillonnage : 300 x 300 mm
Tailles d'échantillon recommandées : 1 pouce à 12 pouces ou 25 à 300 mm
Logiciel et contrôle de l'appareil
Logiciel très convivial
Mesure de la cartographie en temps réel
Options d'analyse statistique faciles à utiliser
Recettes de mesures et de produits prédéfinies (tailles, pas, seuils)
Analyse de lignes, d'histogrammes et de zones
Codage des images en noir et en couleur
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