La série EddyCus® TF inline mesure sans contact les propriétés des couches telles que l'épaisseur de la couche métallique, la résistance de la feuille, l'émissivité, l'humidité résiduelle ou le grammage sur divers substrats. Les substrats concernés sont le verre, les feuilles, le papier, les plaquettes, le plastique ou la céramique. La surveillance est effectuée par des mesures permanentes ou par des événements déclencheurs afin d'obtenir des résultats équidistants dans les processus de revêtement à évolution rapide. Les solutions de contrôle peuvent être mises en œuvre dans l'atmosphère ou sous vide. Les procédés utilisant la technologie des courants de Foucault bénéficient de taux d'échantillonnage élevés. Les résultats des mesures peuvent être fournis pour les systèmes de contrôle de processus en utilisant le logiciel du client. De plus, SURAGUS propose le logiciel de surveillance EddyCus® EC Control qui permet de visualiser, stocker et analyser les données de métrologie.
Avantages
Mesure en temps réel sans contact
Grande vitesse de mesure jusqu'à 1.000 mesures/sec.
Installation de capteurs fixes ou de capteurs traversants
Intégration de 1 à 99 voies de surveillance par système
Contrôle du processus à l'atmosphère ou sous vide
Des mesures très proches du bord du substrat sont possibles dans de nombreuses applications
Stabilité à long terme grâce à des mesures compensées en température dans un environnement changeant
Grandes distances par rapport au matériau à tester (par exemple, écart de 60 mm / 2,4 pouces)
Caractérisation de couches conductrices recouvertes ou de substrats encapsulés
Nombreuses fonctions d'analyse et de statistiques intégrées au logiciel
Installation facile grâce au logiciel EddyCus® RampUp, y compris l'assistant d'étalonnage du système
Sans usure
Motivation pour l'utilisation de la métrologie en ligne
Contrôle des processus et assurance qualité
Optimisation de la durée du processus
Utilisation de la machine
Utilisation des matériaux
Productivité
Amélioration de la performance des produits
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