Mesureur d'épaisseur de revêtement EddyCus® TF map 2525SR

de filmsans contactpour l'aéronautique

La carte EddyCus® TF 2525 Series reproduit automatiquement les caractéristiques d'échantillons jusqu'à 250 x 250 mm² (10 x 10 pouces) en mode sans contact. En positionnant manuellement l'échantillon, l'appareil mesure et affiche automatiquement la distribution des propriétés sur toute la surface de l'échantillon. Les paramètres de mesure permettent de choisir facilement et avec souplesse entre des temps de mesure rapides inférieurs à 1 minute ou une haute résolution spatiale de mesure de plus de 50 000 points de mesure par échantillon. La cartographie qui en résulte donne un véritable aperçu de l'homogénéité et de la qualité des couches transparentes et non transparentes ou des plaquettes et feuilles de métal. L'appareil de table permet, en fonction de sa configuration, d'obtenir une image précise de la résistance de la feuille, de l'épaisseur du métal ou de la transparence optique. Points forts Sans contact Mesure rapide et précise Cartographie haute résolution de couches minces conductrices Imagerie de substrats jusqu'à 250 x 250 mm (10 x 10 pouces) Détection des défauts et analyse des revêtements Caractérisation même des couches conductrices cachées et encapsulées Diverses fonctions d'analyse intégrées au logiciel (par exemple, distribution de la résistance de la feuille, balayage de lignes, analyse d'un seul point) Fonctions de sauvegarde et d'exportation des données de mesure Types La plateforme d'appareils est disponible dans différentes configurations de capteurs, notamment des capteurs à courants de Foucault pour la caractérisation électrique ou des capteurs pour la caractérisation optique. Les variantes des configurations de mesure comportent les options suivantes. Caractéristiques Technologie : courants de Foucault sans contact Imagerie par cartographie multipoint Contrôle de l'uniformité des couches minces Contrôle de la qualité, contrôle de l'entrée et de la sortie Zone de positionnement : 300 mm x 270 mm