La nouvelle interface DSOI (Dual Side-On Interface) accroît la sensibilité et élimine les problèmes de contamination et de compatibilité avec les matrices
Un instrument au lieu de deux : Le seul instrument à plasma MultiView du marché - observation axiale et radiale (simple ou double) du plasma dans un seul instrument
Système optique ORCA : Capture simultanée du spectre dans la gamme de longueurs d'onde de 130 à 770 nm avec une sensibilité jusqu'à 5 fois supérieure à celle des systèmes basés sur le principe d'Echelle - offre les meilleures performances de sa catégorie dans la gamme UV/VUV
Le spectromètre d'émission optique à plasma à couplage inductif (ICP-OES) SPECTRO ARCOS excelle dans les applications industrielles et universitaires pour l'analyse élémentaire la plus avancée des métaux, produits chimiques, pétrochimiques et autres matériaux.
Le mécanisme MultiView sans périscope permet à un opérateur de "transformer" littéralement un instrument à vision radiale en un appareil à vision axiale, ou vice-versa, en 90 secondes ou moins. Le MultiView comprend désormais l'observation du plasma en double face. Les deux interfaces optiques augmentent la sensibilité et éliminent les problèmes de contamination et de compatibilité avec les matrices
Les détecteurs à réseau de lignes, basés sur la technologie CMOS (complementary metal-oxide-semiconductor), éliminent le blooming, lisent les signaux faibles des éléments traces même à proximité des lignes intenses de la matrice, offrent une gamme dynamique élevée et éliminent le refroidissement sur puce
La conception du SPECTRO ARCOS garantit des coûts d'exploitation exceptionnellement bas pour une durée de vie longue et fiable. Il est doté d'un châssis moderne et ergonomique et de caractéristiques éprouvées telles que la technologie de purification des gaz scellés UV-PLUS sans purge, le refroidissement par air exclusif, le système de vanne intelligente en option et la caméra vidéo portable pour la surveillance à distance.
Le nouveau SPECTRO ARCOS est disponible en six versions
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