Des résultats très précis en moins de 20 secondes (exemple : aciers faiblement alliés)
Besoins en interventions d'entretien régulier (nettoyage du stand d'étincelles) réduits d'un facteur 8
En moyenne, une amélioration de facteur 2 des limites de détection pour les aciers faiblement alliés et une amélioration de facteur 5 pour les métaux d'aluminium pur par rapport aux modèles précédents
Réduction de 27 % de l'empreinte des instruments
iCAL 2.0 - une normalisation d'échantillon pour le système complet, ce qui permet d'économiser 30 minutes par jour
SPECTRO, le leader de l'innovation arc/étincelle, a passé plus de 40 ans à développer les meilleurs instruments OES au monde. Maintenant, il a perfectionné l'utilisation des détecteurs à semi-conducteurs avec sa technologie CMOS+T exclusive pour révolutionner l'analyse OES haut de gamme des arcs et des étincelles. SPECTROLAB S est dans une classe à part. Il est conçu pour fournir les mesures les plus rapides possibles, les limites de détection les plus basses, le temps de fonctionnement le plus long et une flexibilité à l'épreuve du temps
Le SPECTROLAB S dispose du premier système de détection au monde basé sur la technologie CMOS et perfectionné pour l'analyse des métaux haut de gamme - grâce à la technologie CMOS+T exclusive à SPECTRO. Des éléments traces aux applications multi-matrices, il permet une analyse extrêmement rapide, très précise et exceptionnellement flexible.
En ce qui concerne le débit d'échantillons, SPECTROLAB S répond aux besoins de rapidité du marché des métaux. Exemple : lors de l'analyse d'acier faiblement allié, il peut fournir des mesures très précises en moins de 20 secondes !
À tous les égards, il est conçu pour être le spectromètre le plus performant disponible aujourd'hui pour les producteurs de métaux primaires. Et c'est une solution tout aussi excellente pour les producteurs de métaux secondaires, les constructeurs automobiles et aérospatiaux, ainsi que les fabricants de produits finis et semi-finis, d'électronique, de semi-conducteurs, etc.
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