Machine de mesure tridimensionnelle optique OmniLux

pour l'aérospatiale

Notre système de métrologie d'OmniLux est fortement souple et fournit les niveaux inégalés de la capture de 3D CMM pour la mesure composante en quelques secondes. Ce contact de haute précision non, système de métrologie est extrêmement souple parce qu'il mesure des composants de n'importe quelle géométrie et de n'importe quel matériel. Les géométries possibles incluent : sphères, asphere, cylindre, trou interne, cône/chandelle, taille d'étape ou freeform en tout matériel tel que les métaux ou la céramique et les polymères polis ou rugueux. L'Omnilux est rapide et précis parce que, à la différence des capteurs de contact direct, l'utilisation des capteurs optiques signifie que la surface entière peut être analysée tandis que l'objet est suspendu dans l'espace, s'assurant qu'aucun dommage ne vient sur les surfaces sensibles. Notre interface du logiciel facile à utiliser, développée à partir des années d'expérience permet à l'opérateur de commander sans effort le système. L'analyse, l'automation et l'exportation riches de données des résultats pour la génération immédiate des rapports aussi bien que d'une empreinte de pas compacte signifie qu'OmniLux est la principale solution pour la production ou les environnements de R&D où réduisant des durées de cycle est critique au succès viable.