Analyseur de matériaux MSA-600
benchtoppour l'aéronautiqueoptique

Analyseur de matériaux - MSA-600 - Polytec - benchtop / pour l'aéronautique / optique
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Caractéristiques

Type
de matériaux
Configuration
benchtop
Autres caractéristiques
pour l'aéronautique, optique, laser

Description

La topographie de surface, l'analyse et la visualisation des mouvements dynamiques sont essentielles pour tester et développer des microstructures telles que les dispositifs MEMS (Micro-Electro-Mechanical Systems). Elles sont indispensables pour valider les calculs FE et mesurer la déformation de la surface. L’analyseur de microstructures MSA-600, station de mesure optique tout-en-un, permet de caractériser la topographie de surface ainsi que les mouvements dans le plan et hors plan. Les versions MSA-600-M/V couvrent les gammes de fréquences jusqu'à 25 MHz, idéales pour les MEMS comme les microphones MEMS et autres microsystèmes. Les versions MSA-600-X/U couvrent la gamme des hautes et très hautes fréquences jusqu'à 2,5 GHz, parfaite pour la validation des résonateurs MEMS HF, des dispositifs micro-acoustiques tels que SAW, BAW et autres. Points forts Station de mesure optique tout-en-un pour les microstructures Mesures de réponse en temps réel (aucun post-traitement requis) Versions MSA-600-M/V pour les fréquences jusqu'à 25 MHz Versions MSA-600-M/V pour les fréquences jusqu'à 2,5 GHz Résolution de déplacement sub-pm inégalée Mesure rapide et visualisation des déformées 3D Fonctionnement simple et intuitif Système automatisé pour une intégration facile sur stations sous pointes Options d'importation / exportation pour la validation du modèle FE

VIDÉO

Catalogues

MSA-600
MSA-600
16 Pages
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.