Machine d'inspection à rayons X XT H series

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The integration of industry-leading features into the XT H 225 ST 2x microfocus X-ray CT system allows a doubling of data acquisition speed and hence of inspection productivity. It is a result of using advanced detector technology combined with new functionality including Half.Turn and Rotating.Target 2.0. Plutôt que de faire tourner l’échantillon de 360 degrés pendant que les rayons X sont absorbés ou traversent l’objet vers le détecteur, Nikon Metrology a mis au point une méthode permettant de collecter suffisamment de données en faisant tourner l’échantillon de seulement 180 degrés. Le développement maîtrisé du logiciel de reconstruction, leader mondial, a facilité cette innovation qu’est le Half.Turn, car autorisant le calcul automatique du centre de rotation, associé à l’optimisation de l’algorithme de reconstruction. Cette association permet d‘éliminer les artefacts liés à une rotation de l’objet inférieure à 360 degrés. On obtient ainsi, automatiquement, des images sans perte de qualité ou de précision, avec environ la moitié des données habituellement nécessaires en TN conventionnelle. Les systèmes par TN de Nikon Metrology sont les seuls à bénéficier de la technologie de la cible rotative permettant d’augmenter considérablement la vitesse de scan et le rapport signal/bruit. Cela est rendu possible grâce à la capacité d’émission de rayons X puissants à travers une tâche focale maîtrisée.. La toute dernière version de la Rotating.Target 2.0 a été optimisée pour garantir une durée de fonctionnement doublée ! La rotation de la cible à 8000 tr/min,