Épaisseur de cuivre de surface et de trace compensée par la température, unique en son genre
RÉSULTATS PRÉCIS DE L'INSPECTION EN COURS DE PROCESSUS, QUELLE QUE SOIT LA TEMPÉRATURE DU CUIVRE
La température peut affecter la mesure d'un échantillon de cuivre.
Notre CMI165® peut compenser la température pour produire des résultats précis d'inspection en cours de processus, quelle que soit la température du cuivre. C'est une jauge idéale pour l'assurance qualité et l'inspection :
La fabrication et l'assemblage de PCM
Épaisseur de la surface du cuivre.
Notre jauge CMI165® est polyvalente et portable. Elle est équipée d'une mallette de protection et sa conception durable permet de l'emporter dans les environnements les plus difficiles. Le CMI165® est un bon choix pour :
Mesurer le Cu sur des circuits imprimés chauds ou froids.
Réduire les déchets en éliminant le besoin de coupons.
Mesurer l'épaisseur de Cu sur des feuilles ou des laminés en μm, mils ou oz.
Pointe de la sonde éclairée pour un
facile à positionner.
Interface utilisateur en anglais ou
Chinois simplifié
SONDE DE MESURE PROPRIÉTAIRE SRP-T1
Embout de sonde remplaçable - aucun réétalonnage n'est nécessaire.
Pas de temps d'arrêt de l'usine.
SPÉCIFICATIONS
sonde électrique à 4 points avec méthode de résistance pour garantir la conformité à la norme EN 14571.
Répétabilité et fiabilité élevées.
L'analyse statistique comprend l'enregistrement des données, la moyenne, l'écart-type et les rapports haut-bas.
Étalonné et certifié en usine.
Personnalisable pour des applications spécifiques.
Mesure en mode statique ou continu.
Alimenté par des piles AA.
---