Analyseur XRF FT16 series

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L'analyseur XRF de table FT160 est conçu pour mesurer les caractéristiques infimes que l'on trouve aujourd'hui sur les circuits imprimés, les semi-conducteurs et les micro-connecteurs. La capacité de mesurer avec précision et rapidité des caractéristiques infimes permet d'augmenter la productivité et d'éviter des retouches coûteuses ou le rejet de composants. L'optique polycapillaire du FT160 peut mesurer des revêtements à l'échelle du nm sur des caractéristiques inférieures à 50 µm, et la technologie avancée des détecteurs permet d'obtenir une grande précision tout en maintenant un temps de mesure court. D'autres caractéristiques, telles qu'une grande table d'échantillonnage, une porte à large ouverture, une caméra d'échantillonnage haute définition et une grande fenêtre d'observation, facilitent le chargement d'objets de différentes tailles et permettent de trouver la région d'intérêt sur un substrat de grande taille. Facile à utiliser, cet analyseur s'intègre parfaitement à votre processus d'AQ/CQ, vous alertant des problèmes avant qu'ils ne deviennent une crise. Points forts du produit Conçu pour l'analyse des taches microscopiques et des revêtements ultraminces, l'optique et la technologie de détection du FT160 sont optimisées pour les caractéristiques les plus petites. Grande fenêtre d'observation pour visualiser l'analyse à une distance sûre Méthodes de mesure conformes aux normes ISO 3497, ASTM B568 et DIN 50987 Finitions des tests pour la conformité aux normes IPC-4552B, IPC-4553A, IPC-4554 et IPC-4556 Localisation automatisée des caractéristiques pour une mise en place rapide des échantillons Choix de la configuration de l'analyseur optimisé pour votre application Mesure des revêtements à l'échelle du nm sur des caractéristiques inférieures à 50 µm Capacité d'analyse doublée par rapport aux instruments conventionnels Prise en charge d'échantillons de grande taille dans une large gamme de formes Conception robuste testée pour une utilisation à long terme en production