Système de mesure de durée de vie et de qualification pour l’évaluation de la fiabilité des diodes lasers en régime continu ou impulsionnel (inférieur à 1 nanoseconde). Jusqu’à 112 diodes lasers sont pilotées indépendamment et testées électriquement, thermiquement et optiquement selon des scénarios programmés par l’utilisateur.
Ce système de test de fiabilité de diode laser a été spécialement conçu pour la qualification et le test de dispositifs couplés dans une fibre avec un maximum de flexibilité sur les mesures internes et externes. La puissance optique de la diode laser est mesurée depuis la BFM ou une photodiode externe à gain variable pour une meilleure précision. Il permet l’ajustement indépendant et précis de la température du boîtier des diodes laser et de la puce des diodes laser.
Ce système de mesure de fiabilité de diode laser est un système d’évaluation compatible à impulsions courtes, idéal pour les tests de durée de vie et de qualification.
Caractéristiques clés :
Du régime continu jusqu’à une largeur d’impulsion inférieure à la nanoseconde
Mesure des caractéristiques LIV de la diode laser en mode continu et impulsionnel
Chaque diode laser sont indépendantes les unes des autres
Idéal pour diode butterfly ou autres boîtiers couplés à des fibres (Mini-Butterfly, TOSA, TO-Can etc.)
Mémoire flash intégrée sur chaque tiroir de 8 diodes laser
Programme IHM complet et facile d’utilisation
Fenêtre de protection laser complète
Ce système de test de fiabilité de diodes lasers concerne les tests menés :
En parallèle de la production par les équipes R&D et les équipes des services de qualification