xclusiva herramienta de corrección automática para escaneados
Para el control de procesos de producción de componentes complejos y caros, la tomografía computarizada (CT) se convierte en la tecnología preferente en muchas tareas de inspección y metrología, como los moldeados de automoción, las cuchillas de turbinas aeroespaciales o las piezas impresas 3D, que, por naturaleza, tienen elementos ocultos. Uno de los principales desafíos radica en los requisitos de aumento del tiempo de ciclo combinados con una alta profundidad de inspección, lo que exige métodos mejorados para el tratamiento de los artefactos de la captura de imágenes.
La dispersión de los rayos X es el factor que más influye en esos artefactos en la TC. Mientras que la reducción de dispersión de vanguardia simula la dispersión a partir de datos de CAD o de las propiedades del material de la muestra, la tecnología patentada scatter|correct de GE mide realmente la parte de dispersión de la muestra en el escáner de TC y la minimiza en el resultado de la tomografía para cada vóxel. El nuevo método aumenta la productividad de la inspección y la precisión de las aplicaciones de TC de alta energía para escanear muestras difíciles de penetrar que tienen un número atómico relativamente alto,