Detector de defectos por corrientes de Foucault ECIS-CC-20
para la aeronáutica

Detector de defectos por corrientes de Foucault -  ECIS-CC-20 - TecScan - para la aeronáutica
Detector de defectos por corrientes de Foucault -  ECIS-CC-20 - TecScan - para la aeronáutica
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Características

Tecnología
por corrientes de Foucault
Aplicaciones
para la aeronáutica

Descripción

Este instrumento de corrientes de Foucault está diseñado para realizar ensayos no destructivos avanzados, tanto manuales como automatizados. El ECIS-CC-20 representa un instrumento de corrientes de Foucault integrado, multifrecuencia y totalmente digital. El ECIS-CC-20 puede utilizarse en una amplia gama de aplicaciones, como las aeroespaciales, industriales, de fabricación y de laboratorio, para realizar ensayos no destructivos de componentes conductores. Nuestros instrumentos se suministran como parte de nuestros sistemas de escaneo o como equipos independientes pilotados por un software TecView™ EC de fácil manejo. El instrumento de corrientes inducidas ECIS-CC-20 de TecScan está diseñado para integrarse completamente en un sistema automatizado. El instrumento está disponible como instrumento de sobremesa y de montaje en bastidor y está diseñado para integrarse fácilmente en sistemas de pruebas automatizadas de piezas complejas. El ECIS-CC-20 es un instrumento de corrientes inducidas totalmente digital y controlado por ordenador, con 1-8 canales de frecuencia multiplexados. El ECIS-CC-20 representa un instrumento de corrientes inducidas integrado, controlado por ordenador y multifrecuencia, totalmente digital. Con su avanzado diseño digital, el instrumento funciona con una base de tiempo muy estable que se combina con los convertidores de alta frecuencia que permiten realizar pruebas de corrientes de Foucault a altas frecuencias al tiempo que proporcionan los resultados estables del procesamiento de señales. Funciona con nuestro software TecView™ EC para realizar ensayos no destructivos manuales y automatizados avanzados. El ECIS-CC-20 está diseñado pensando en la aplicabilidad, con especificaciones que pueden satisfacer las aplicaciones de ensayos automatizados más exigentes.

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