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Medidor de espesor de revestimiento EddyCus® TF map 2530MT
sin contactopara la aeronáuticapor corrientes de Foucault

Medidor de espesor de revestimiento - EddyCus® TF map 2530MT - SURAGUS GMBH - sin contacto / para la aeronáutica / por corrientes de Foucault
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Características

Aplicaciones
de revestimiento
Tecnología
sin contacto
Otras características
para la aeronáutica, por corrientes de Foucault

Descripción

La serie EddyCus® TF map 2530 mide automáticamente la resistencia de la lámina de muestras grandes de hasta 300 x 300 mm² (12 x 12 pulgadas) en modo sin contacto. Tras el posicionamiento manual de la muestra, el dispositivo mide y muestra automáticamente un mapa preciso de la resistencia de la lámina en toda el área de la muestra. Los ajustes de medición permiten elegir de forma fácil y flexible entre tiempos de medición rápidos, inferiores a 1 minuto, o una alta resolución de medición espacial de más de 100.000 puntos de medición. Aspectos destacados Sin contacto Medición rápida y precisa Cartografía de alta resolución de películas finas conductoras Obtención de imágenes de sustratos de hasta 300 x 300 mm (12 x 12 pulgadas) Caracterización incluso de capas conductoras ocultas y encapsuladas Diversas funciones de análisis integradas en el software (por ejemplo, distribución de la resistencia de la lámina, escaneos de líneas, análisis de un solo punto) Funciones de almacenamiento y exportación de datos de medición Detección de defectos y análisis de capas Tipos La plataforma de dispositivos está disponible en diferentes configuraciones de sensores, incluyendo sensores de corrientes parásitas para la caracterización eléctrica o sensores para la caracterización óptica. Las variantes de las configuraciones de medición incluyen las siguientes opciones. Características Tecnología: corrientes de Foucault sin contacto Captación de imágenes mediante mapeo multipunto Área de posicionamiento 300 mm x 300 mm Área de muestreo 300 x 300 mm Tamaños de muestra recomendados: de 1 a 12 pulgadas o de 25 a 300 mm Software y control del dispositivo Software muy fácil de usar Medición de mapas en tiempo real Opciones de análisis estadístico fáciles de usar Recetas de medición y productos predefinidos (tamaños, pasos, umbrales) Análisis de líneas, histogramas y áreas Codificación de imágenes en negro y en color

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