La serie EddyCus® TF map 2525 visualiza automáticamente las características de muestras de hasta 250 x 250 mm² (10 x 10 pulgadas) en modo sin contacto. Tras el posicionamiento manual de la muestra, el dispositivo mide y muestra automáticamente la distribución de las propiedades en toda el área de la muestra. Los ajustes de medición permiten elegir de forma fácil y flexible entre tiempos de medición rápidos, inferiores a 1 minuto, o una alta resolución de medición espacial de más de 50.000 puntos de medición por muestra. La cartografía resultante proporciona una visión real de la homogeneidad y la calidad de las capas transparentes y no transparentes o de las obleas y láminas metálicas. El dispositivo de sobremesa permite, en función de su configuración, la obtención de imágenes precisas de la resistencia de la lámina, el grosor del metal o la transparencia óptica.
Aspectos destacados
Sin contacto
Medición rápida y precisa
Cartografía de alta resolución de películas finas conductoras
Obtención de imágenes de sustratos de hasta 250 x 250 mm (10 x 10 pulgadas)
Detección de defectos y análisis de recubrimientos
Caracterización incluso de capas conductoras ocultas y encapsuladas
Diversas funciones de análisis integradas en el software (por ejemplo, distribución de la resistencia de la lámina, escaneado de líneas, análisis de un solo punto)
Funciones de almacenamiento y exportación de datos de medición
Tipos
La plataforma de dispositivos está disponible en diferentes configuraciones de sensores, incluyendo sensores de corrientes parásitas para la caracterización eléctrica o sensores para la caracterización óptica. Las variantes de las configuraciones de medición incluyen las siguientes opciones.
Características
Tecnología: corrientes de Foucault sin contacto
Captación de imágenes mediante mapeo multipunto
Control de la uniformidad de la capa fina
Control de calidad, control de entrada y salida
Área de posicionamiento 300 mm x 270 mm
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