Espectrómetro óptico SPECTROGREEN

para la industria aeroespacial

Nueva y revolucionaria tecnología Dual Side-On Interface (DSOI) que consigue el doble de sensibilidad que los instrumentos convencionales de visión radial de plasma La tecnología TI permite la máxima sensibilidad para los oligoelementos, así como la ausencia de interferencias de la matriz, además de una buena precisión para las matrices ambientales difíciles Nuevo sistema de lectura GigE que permite el transporte de los espectros en menos de 100 ms para una mayor velocidad de análisis, tiempos más cortos entre muestras y más muestras por hora Generador LDMOS extremadamente ágil que hace innecesaria la refrigeración externa: analiza matrices de muestras difíciles en diluciones más bajas para obtener límites de detección más bajos - calentamiento más rápido (~10 minutos) para una mayor productividad La nueva tecnología DSOI de SPECTRO, un enfoque totalmente nuevo para la cuestión crítica del diseño de la vista del plasma, utiliza una antorcha de plasma vertical, observada mediante una nueva tecnología de vista radial directa. Dos interfaces ópticas capturan la luz emitida desde ambos lados del plasma, utilizando sólo un reflejo adicional, para aumentar la sensibilidad y eliminar los problemas que afectan a los nuevos modelos de antorcha vertical de doble vista. Como resultado, DSOI proporciona el doble de sensibilidad que los sistemas radiales convencionales, pero evita la complejidad, los inconvenientes y el coste de los modelos de vista dual vertical. El modelo Twin Interface combina automáticamente las vistas axial y radial del plasma - mirando tanto a través del plasma como de extremo a extremo - optimizando la sensibilidad, la linealidad y el rango dinámico a la vez que se evitan los efectos de matriz como la EIE. El resultado: SPECTROGREEN TI ofrece la más alta sensibilidad para los elementos traza, así como la ausencia de interferencias de la matriz, además de una buena precisión para las matrices ambientales difíciles.