Los analizadores XRF de sobremesa de la serie FT200 se han diseñado para reducir significativamente el tiempo necesario para realizar una medición. Conscientes de que la mayor parte del tiempo se emplea en la preparación de la muestra y la selección de la receta de medición, los ingenieros de Hitachi han creado una serie de innovadores analizadores que se "preparan" solos, lo que permite analizar muchas más piezas en un solo turno.
Los analizadores FT230 y FT210 se caracterizan por su automatización y su innovador software. Los módulos de reconocimiento inteligente como Find My Part™ significan que todo lo que el operario tiene que hacer es cargar la muestra, confirmar la pieza y el instrumento se encarga del resto. Encontrará las ubicaciones de medición correctas en su pieza -incluso en sustratos grandes-, seleccionará el programa de análisis correcto y enviará los resultados a su sistema de calidad. Se reducen el tiempo y los errores humanos, y se obtienen más análisis en menos tiempo, lo que hace que la inspección al 100% sea mucho más realista en un entorno de producción ajetreado.
Aspectos destacados del producto
Todos y cada uno de los elementos del FT230 y el FT210 se han diseñado para reducir drásticamente el tiempo de análisis.
El enfoque automatizado reduce el tiempo de carga de la muestra
El reconocimiento inteligente Find My Part™ establece automáticamente la rutina de medición completa
La vista de la muestra se presenta sobre una gran parte de la pantalla para una excelente visibilidad
Los diagnósticos de autocomprobación confirman la salud y estabilidad del instrumento
Se integra perfectamente con otro software y exporta datos fácilmente
Intuitivo y fácil de usar por no especialistas gracias a una nueva interfaz de usuario
Potente para medir hasta cuatro capas a la vez más el sustrato
Duradera para una larga vida útil en un entorno exigente de producción o laboratorio
Cumple las normas ASTM B568 y DIN ISO 3497
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