Analizador XRF FT16 series

de materialesbenchtoppara la aeronáutica

El analizador XRF de sobremesa FT160 está diseñado para medir las diminutas características de las actuales placas de circuito impreso, semiconductores y microconectores. La capacidad de medir con precisión y rapidez características diminutas ayuda a aumentar la productividad y a evitar costosas repeticiones de trabajos o el rechazo de componentes. La óptica policapilar del FT160 puede medir revestimientos a escala nanométrica en características inferiores a 50 µm, y la avanzada tecnología de detectores le proporciona una gran precisión a la vez que mantiene un tiempo de medición corto. Otras características, como una mesa de muestras de gran tamaño, una puerta de amplia apertura, una cámara de muestras de alta definición y una ventana de observación considerable, facilitan la carga de elementos de tamaño variable y la localización de la región de interés en un sustrato de gran tamaño. Fácil de usar, este analizador se integra perfectamente en su proceso de control y garantía de calidad, alertándole de los problemas antes de que se conviertan en una crisis. Aspectos destacados del producto Diseñado para el análisis de micropuntos y revestimientos ultrafinos, la óptica y la tecnología de detección del FT160 están optimizadas para las características más pequeñas. Gran ventana de observación para ver el análisis desde una distancia segura Los métodos de medición cumplen las normas ISO 3497, ASTM B568 y DIN 50987 Acabados de prueba para conformidad con IPC-4552B, IPC-4553A, IPC-4554 e IPC-4556 Localización automatizada de características para una rápida preparación de las muestras Elección de la configuración del analizador optimizada para su aplicación Medición de revestimientos a escala nanométrica en características inferiores a 50 µm El doble de capacidad de análisis que los instrumentos convencionales Admite muestras de gran tamaño con una amplia gama de formas Diseño robusto probado para uso en producción a largo plazo