video corpo

Analizador XRF X-Strata920
de materialesbenchtoppara la aeronáutica

Analizador XRF - X-Strata920 - Hitachi High-Tech Analytical Science - de materiales / benchtop / para la aeronáutica
Analizador XRF - X-Strata920 - Hitachi High-Tech Analytical Science - de materiales / benchtop / para la aeronáutica
Analizador XRF - X-Strata920 - Hitachi High-Tech Analytical Science - de materiales / benchtop / para la aeronáutica - imagen - 2
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador
 

Características

Otras características
de materiales
Configuración
benchtop
Otras características
para la aeronáutica, XRF

Descripción

El X-Strata920 es un analizador XRF de sobremesa de alta precisión que viene con una enorme gama de opciones para adaptarse a muchos tipos de muestras. Ideal para medir revestimientos en una amplia gama de sustratos, este analizador es idóneo para electrónica, conectores, artículos de decoración y análisis de joyería en los que es preciso establecer la calidad del producto. El punto fuerte del X-Strata920 es su versatilidad. Puede elegir entre muchas configuraciones, incluidas cinco configuraciones de base para adaptarse a muestras de diferentes tamaños, seis tamaños de colimador para un análisis óptimo de características de diferentes tamaños y funciones automatizadas adicionales para ayudar a acelerar el proceso de medición manteniendo la precisión. Fácil de usar, con un software intuitivo, la X-Strata920 puede ser manejada por personas no especializadas y se integrará fácilmente en su departamento de producción o de control de calidad. Aspectos destacados del producto La X-Strata920 ofrece una amplia gama de opciones y la versatilidad necesaria para adaptarse a una gran variedad de muestras, lo que permite realizar análisis precisos en todo momento. Diseño adaptable para el análisis fiable de una amplia gama de productos El enfoque automático y la platina motorizada opcional mejoran la precisión y la velocidad El intuitivo software SmartLink facilita la toma y exportación de mediciones Diseño multicolimador para obtener la máxima precisión en cada muestra Opción de contador proporcional o detector de deriva de silicio (SDD) para adaptarse a la aplicación Cumple las normas del sector, como IPC-4552A, ISO3497, ASTM B568 y DIN50987 Fácil carga de muestras y análisis rápido que proporciona resultados en segundos Óptica potente para analizar revestimientos monocapa y multicapa, incluidas capas aleadas

---

VÍDEO

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.