Detector de defectos con transductores múltiples OmniScan X4

de imágenescon focalización totaldigital

Detecte e interprete defectos complejos, e identifique daños en una etapa temprana gracias al portátil y sobre todo potente detector de defectos multitecnológico OmniScan™ X4. Detección eficaz y temprana del HTHA. Debido a la complejidad del HTHA, se combinan métodos como TOFD, PA, TFM y sondas DLA™, demostrando alta efectividad. OmniScan™ X4 también integra PCI, que mejora la visualización de defectos pequeños y puntas de grietas, junto con herramientas de software que simplifican configuración y análisis. •Configuración integrada de las sondas DLA y los escáneres •Representaciones TFM de alta resolución (hasta 1,024 × 1,024 puntos) •Herramientas de software dedicadas a optimizar el proceso de inspección TFM, desde la configuración hasta el análisis (plan de escaneo con modelo del AIM, curva TCG automática, emisión de poca densidad (sparse), ganancia de software y deslizador de paleta, envolvente TFM en directo y filtros de imagen, puertas y alarmas). •Apertura TFM de 64 elementos y apertura ampliada de 128 elementos (modelo OmniScan X4 64:128PR). •Procesamiento de imágenes por coherencia de fase para resaltar pequeños defectos y puntas de grietas (todas las unidades OmniScan X4). •Adquisición posible de hasta ocho grupos TOFD y Phased Array simultáneamente para una detección eficiente. •Adquisición y presentación de hasta cuatro grupos TFM y PCI a la vez. •Procesamiento de imágenes de onda plana (PWI) disponible con las técnicas TFM y PCI (usando la unidad OmniScan X4 con sondas de matriz lineal).