Sistema de pruebas de fiabilidad para la cualificación de diodos láser en régimen pulsado o de onda continua
Sistema de pruebas de vida útil y cualificación para la evaluación de la fiabilidad de diodos láser en régimen de onda continua o pulsada de hasta 1 nanosegundo. Se prueban eléctrica, térmica y ópticamente hasta 112 dispositivos de fibra totalmente independientes de acuerdo con varios escenarios de prueba programados por el usuario.
Este sistema de prueba de fiabilidad de diodos láser se ha diseñado especialmente para la cualificación y prueba de dispositivos acoplados a fibra con la máxima flexibilidad de medición interna y externa. La potencia óptica del diodo láser se mide independientemente de los BFM o de algunos fotodiodos externos con ganancia variable para una mayor precisión. Permite el ajuste independiente y preciso de la temperatura de cada paquete de diodo láser y de cada chip de diodo láser.
ste sistema de prueba de fiabilidad de diodos láser es un sistema de evaluación de fiabilidad compatible con pulsos cortos, ideal para pruebas de vida útil y de cualificación.
Características principales :
Desde CW (onda continua) hasta menos de 1 ns de ancho de pulso
Pruebas CW-LIV y Pulsed-LIV para evitar efectos térmicos
comportamiento 100% independiente de cada diodo láser
Ideal para Butterfly u otros paquetes acoplados de fibra (Mini-Butterfly, TOSA, TO-Can etc.)
Memoria flash integrada en cada bandeja de 8 diodos láser
GUI de supervisión de programación con interfaz gráfica fácil de usar
Protección total del láser con ventana protectora especial
Las aplicaciones de este sistema de prueba de fiabilidad de diodos láser incluyen cualquier cualificación, prueba de vida o pruebas de Burn-in :
En paralelo al proceso de producción para equipos de I+D y cualificación
Al final del proceso de producción de diodos láser
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