Beschichtungs-Dickenmessgerät EddyCus® TF map 2525SR

Folienkontaktlosfür die Luftfahrt

Der EddyCus TF map 2525 misst automatisiert und berührungsfrei den Schichtwiderstand von Substraten zwischen 50 x 50 mm² und 250 x 250 mm². Nach der manuellen Probenpositionierung erstellt das Messgerät selbständig ein akkurates Mapping des Schichtwiderstandes über die gesamte Probenfläche. Die Messung ist durch den Nutzer einfach konfigurierbar, z.B. für schnelle Messzeiten von unter 1 Minute oder für hohe örtliche Auflösung mit mehr als 100.000 Messpunkten. Vorteile Berührungslose Echtzeit-Messung von Substraten bis 250 x 250 mm² Hochauflösendes Schichtwiderstand Mapping von leitfähigen Dünnschichten Charakterisierung auch von verdeckten leitfähigen Schichten und verkapselten Substraten Zahlreiche software-integrierte Analysefunktionen (z.B. Schichtwiderstandsverteilung, Linienscans, Einzelpunktanalysen) Speicherung und Export von Messdaten und Mappingdaten Messanwendungen Schichtwiderstand Prüfung der Schichthomogenität Defektoskopie und Schichtanalyse Messung und Mapping der Schichtdicke metallischer Schichten Qualitätskontrolle, Wareneingangskontrolle, Warenausgangskontrolle Substratgrößen: 50 x 50 mm² bis 250 x 250 mm² Messbereich: 0,001 – 100 Ohm/sq Einsatzgebiete Architekturglas (LowE-Schichten) Displays, Touchscreens und Flachbildschirme OLED & LED-Anwendungen Smart-glass Anwendungen Graphen-Schichten Photovoltaik-Wafer und Zellen Halbleiterwafer Metallische Schichten und Wafermetallisierungen Enteisungsschichten- und Heizanwendungen Batterieelektroden beschichtetes Papier und leitfähige Textilien