Optisches Spektrometer SPECTROGREEN

für die Raumfahrtindustrie

Neue, revolutionäre „Dual Side On Interface (DSOI)“ Technologie erreicht eine doppelt so hohe Nachweisempfindlichkeit wie herkömmliche Geräte mit radialer Plasmabetrachtung Das TI bietet die höchste Nachweisempfindlichkeit für Spurenelementkonzentrationen, Freiheit von Matrixinterferenzen sowie eine gute Richtigkeit für herausfordernde Matrices in der Umweltanalytik. Neues GigE Auslesesystem ermöglicht Übermittlung der Spektrendaten innerhalb von 100 ms – für schnellere Analysen, kürzere Probe-zu-Probe-Zeiten und mehr Proben pro Stunde Extrem agiler LDMOS-Generator kommt ohne externe Kühlung aus: Verträgt auch schwierige Probenmatrices in niedrigen Verdünnungen für niedrigste Nachweisgrenzen – schnellere Aufwärmzeiten (~10 Minuten) für höhere Produktivität SPECTROs neue DSOI-Technologie ist ein völlig neuer Ansatz, um den Problemen herkömmlicher Plasmabetrachtungsdesigns zu begegnen. Hierbei kommen eine vertikale Plasmafackel und ein doppeltes optisches Interface zur beidseitigen radialen Betrachtung des Plasmas zum Einsatz. Das Ergebnis: Das DSOI bietet eine doppelt so hohe Nachweisempfindlichkeit wie herkömmliche Radialsysteme und hat weder die Nachteile, Komplexität noch Kosten vertikaler Dual-View-Geräte. Das SPECTROGREEN TI mit bewährter Twin Interface Technologie kombiniert automatisch die axiale und radiale Plasmabetrachtung. Auf diese Weise optimiert es Messempfindlichkeit, Linearität sowie Dynamikbereich und vermeidet Matrixeffekte wie den Effekt der leicht ionisierbaren Elemente (EIE). Das Ergebnis: Das SPECTROGREEN TI bietet die höchste Nachweisempfindlichkeit für Spurenelementkonzentrationen,